設(shè)備簡介：X熒光分析是一種快速、無損,、多元素同時(shí)測定的現(xiàn)代測試技術(shù),，已廣泛應(yīng)用于寶石礦物、材料科學(xué),、地質(zhì)研究,、文物考古等諸多領(lǐng)域。X射線熒光光譜儀適用于各種寶石,、貴金屬的無損測試,，具有分析的元素范圍廣，從Be（4）到U（92）均可測定,；熒光x射線譜線簡單,，相互干擾少，樣品不必分離,，分析方法比較簡便,；分析快速、準(zhǔn)確,、無損等優(yōu)點(diǎn),，近年來受到世界各大寶石研究所和寶石檢測機(jī)構(gòu)所重視并加以應(yīng)用。X射線熒光光譜儀可用于鑒定寶石種屬,、區(qū)分某些合成和天然寶石,、鑒別某些人工處理寶玉石、貴金屬含量的檢測,。