設(shè)備簡介：X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好,，測(cè)量速度快,，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析F(9)～U(92)之間所有元素,。樣品可以是固體,、粉末,、熔融片、液體等,，分析對(duì)象適用于煉鋼,、有色金屬、水泥,、陶瓷,、石油、玻璃等行業(yè)樣品,。無標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析,，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對(duì)某些樣品可以接近定量水平,，分析時(shí)間短,。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析、薄膜分析,。測(cè)量樣品的最大尺寸要求為直徑51mm,，高40mm。